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德國費(fèi)希爾X射線熒光測厚儀XULM240信息

更新時(shí)間:2025-08-20      瀏覽次數(shù):644

德國費(fèi)希爾 X 射線熒光測厚儀 XULM240,是一款在材料檢測領(lǐng)域備受矚目的精密儀器。

它配備微聚焦 X 射線管,焦點(diǎn)尺寸≤50μm,配合可電動(dòng)切換的準(zhǔn)直器,最小測量點(diǎn)直徑僅 0.1mm ,能精準(zhǔn)測量半導(dǎo)體芯片金線鍍層、精密傳感器電極等微型結(jié)構(gòu)。其比例計(jì)數(shù)器探測器實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,結(jié)合費(fèi)希爾基本參數(shù)法,無需標(biāo)準(zhǔn)片即可完成高精度測量,如 80nm 金鍍層的重復(fù)精度可達(dá) 2.5nm ,鍍層厚度測量精度達(dá)納米級(jí)。

XULM240 還內(nèi)置 500 萬像素彩色視頻顯微鏡,支持 38x - 184x 光學(xué)變焦,可實(shí)時(shí)觀察樣品表面細(xì)節(jié)并標(biāo)記測量區(qū)域,定位精度達(dá) ±0.005mm 。通過 WinFTM® 軟件,能預(yù)設(shè)測量程序(最多 100 組),進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析并生成報(bào)告,滿足 ISO 9001 等質(zhì)量管理體系要求。

在應(yīng)用上,它適用于線路板行業(yè) Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB 等鍍層測量;電子行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的鍍層測量;裝飾性鍍層 Cr/Ni/Cu/ABS 測量;批量生產(chǎn)部件(螺絲和螺母)防腐鍍層如 Zn/Fe、ZnNi/Fe 測量;珠寶和手表行業(yè)以及測定電鍍槽中的金屬含量等領(lǐng)域,為各行業(yè)的質(zhì)量管控與生產(chǎn)過程控制提供有力支持。


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