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更新時間：2026-07-07 
瀏覽次數：66菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心優勢
上照式結構：工件平面朝上放置，異形件、大件板材檢測更方便，對比下照式 XULM 系列適合復雜立體件
DCM 測距補償：高低落差、深孔工件不用反復校準，大幅提升復雜件檢測效率
FP 無標片測量：新品鍍層體系無需定制標準片，快速上線打樣
極小光斑 Φ0.2mm：微小焊盤、微型觸點無盲區檢測
長期穩定性強，無需頻繁校準，適合產線在線巡檢
輻射防護，整機 CE 認證，車間使用安全合規
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230同系列機型區分（XDL210/220/230/240）
XDL210：基礎款，單準直器，簡易過濾片
XDL220：增強探測器，適配中等精度電鍍
XDL230：手動 XY 平臺、DCM 補償、多準直可選，PCB / 電鍍通用主流款
XDL240：電動可編程 XY 平臺，支持全自動批量多點測試，量產線自動化方案
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