菲希爾X射線測厚儀XDLM237信息

更新時間：2026-07-24

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菲希爾X射線測厚儀測量能力（常見鍍層）

可測單層、多層復合鍍層（Au/Ni、Pd/Ni/Au、Sn/Ni、Cu/Ni/Cr、鋅鎳、化學鎳金 ENIG 等）

鋅、裝飾鉻、多層電鍍體系

遵循標準：ISO 3497、ASTM B568

軟件：WinFTM

菲希爾 FP 基本參數法：大量測量無需標準片，支持未知鍍層體系建立程序

可編程多點陣列掃描、路徑自動測量、批量無人值守檢測

自動輸出 SPC 統計、報表、公差判定

支持數據導出、聯網，可對接實驗室 LIMS

主流應用行業

電子連接器 / 接插件

觸點 Au/Ni、PdAu、銀鍍層微小區域自動多點測試

PCB 印制電路板

化學鎳金 ENIG、沉錫、沉銀、焊盤局部鍍金

精密電鍍五金

裝飾鉻 Cu/Ni/Cr、鍍鋅、鋅鎳合金

半導體、引線框架、微型元器件鍍層檢測

來料檢驗、產線質量監控、第三方實驗室

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